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Informations
Nikon lance les nouveaux microscopes ECLIPSE LV LED et MA LED
Nikon Corporation (Nikon) a lancé trois nouveaux modèles de microscope ECLIPSE, le LV150NA LED, le LV150N LED et le MA200 LED, afin de renforcer la gamme complète de solutions de microscopie industrielle de l’entreprise. Dans la lignée de la série LV100N annoncée en mars 2025, les nouveaux modèles utilisent une source lumineuse LED à rendu des couleurs élevé et améliorent la facilité d’entretien. Les modèles ECLIPSE LV150NA LED et LV150N LED sont des microscopes droits spécialement conçus pour l’éclairage par réflexion, avec des accessoires sélectionnables en fonction de votre méthode d’observation et de vos objectifs. Le MA200 LED est un microscope inversé à éclairage réfléchi, idéal pour l’inspection de pièces industrielles et pour la recherche et le développement.
Fonctions principales
Amélioration de l’entretien :La nouvelle source lumineuse LED au rendu élevé de couleurs améliore l’éclat, la couleur et les propriétés de luminosité par rapport à la source halogène existante, tout en prolongeant la durée de vie de la lampe de 1 100 à 50 000 heures. Pour le MA200 LED, l’optimisation de l’espace est améliorée en intégrant la source lumineuse LED dans le statif du microscope, réduisant les empreintes d’environ 100 mm, selon le modèle.
Amélioration de la convivialité : Les microscopes offrent une grande évolutivité grâce à la compatibilité des accessoires entre les anciens et les nouveaux produits. Les accessoires existants peuvent être utilisés avec les nouveaux microscopes, offrant ainsi une grande évolutivité grâce à une large gamme d’accessoires.
Vous trouverez plus d’informations ici:
LV150NA LED / LV150N LED
https://industry.nikon.com/fr-fr/produits/microscopie-industrielle/microscopes-industriels/eclipse-lv150naled-lv150nled/
MA200LED
https://industry.nikon.com/fr-fr/produits/microscopie-industrielle/microscopes-industriels/eclipse-ma200led/
Informations complémentaires
La série NEXIV VMF-K de Nikon améliore la vitesse de mesure pour une inspection de précision
Nikon a introduit la série NEXIV VMF-K, un système de mesure vidéo haute-performance qui améliore considérablement le débit de mesure.
TOKYO : Nikon Corporation (Nikon) a lancé la série NEXIV VMF-K, un système de mesure vidéo de dernière génération conçu pour répondre aux exigences croissantes d’inspection dans le secteur des semiconducteurs et des composants électroniques.
En s’appuyant sur le succès de la série VMZ-K, la série NEXIV VMF-K offre des avantages importants à un large éventail d’industries en plus de la fabrication des semiconducteurs, notamment dans le conditionnement, la production de substrats, l’inspection de wafers, et l’inspection des cartes de sondes.
Alors que les semiconducteurs deviennent plus petits et plus intégrés, les processus d’inspection deviennent de plus en plus essentiels pour conserver la qualité. La série NEXIV VMF-K relève ce défi en fournissant des mesures stables des dimensions au niveau du micron tout en améliorant considérablement le débit, soutenant ainsi le contrôle qualité rigoureux dans la fabrication des dispositifs semi-conducteurs.
La nouvelle série NEXIV VMF-K comprend le VMF-K3040, qui remplace le VMZ-K3040, et le VMF-K6555, qui remplace le VMZ-K6555.
Principaux avantages de la série NEXIV VMF-K :
Débit de mesure amélioré : Le débit de mesure de la série VMF-K est 1,5 fois supérieur à celui du précédent modèle VMZ-K (selon les conditions de mesure standard de Nikon), ce qui réduit nettement le temps de mesure et augmente la productivité.
Optiques avancées : Équipée d’un système optique confocal, la série VMF-K permet simultanément la mesure 2D et la mesure de la hauteur dans le champ de vision, ce qui permet d’obtenir un débit considérablement supérieur à celui obtenu dans le cas de la mesure de la hauteur à l’aide d’images à fond clair uniquement.
Source lumineuse améliorée : Le changement de source de lumière confocale d’une lampe au xénon à une DEL, entraîne une augmentation de la durée de vie de 3 000 heures à 30 000 heures. Cette amélioration augmente l’efficacité opérationnelle et réduit le besoin de remplacer des lampes.
Gamme de modèles étendue : La série inclut maintenant un objectif 45x standardisé, qui prend en charge les exigences de mesure avancée de semiconducteurs, même pour les mesures plus précises.
Conformité SEMI S2/S8 : La série VMF-K répond aux normes de sécurité industrielle pour les équipements de fabrication des semiconducteurs lorsqu’elle est installée correctement conformément aux directives SEMI S2/S8.
Nouvelle fonction logicielle : La série permet d’afficher le temps restant lors de la mesure.
Nouveau design extérieur : La série présente un design d’usine élégant avec des tons noir et argenté.
« Nous sommes ravis d’introduire la série NEXIV VMF-K, une solution de pointe qui répond aux besoins croissants de mesures plus fines dans la fabrication des semiconducteurs et des composants électroniques », a déclaré un porte-parole de Nikon.
« En améliorant nettement le débit de mesure et en maintenant une précision élevée, notre nouveau système permet aux fabricants d’améliorer les processus de contrôle qualité et d’accélérer le développement de produits face à l’augmentation de la miniaturisation et à l’intégration des dispositifs semi-conducteurs ».
