Aéronotique, spataial, défense : quand les exigences de contrôle montent d’un cran au salon Micronora // MCE Metrology
Micronora 2026: MCE Metrology präsentiert seine neuesten Innovationen für die Mikromechanik
Das Unternehmen ist seit vielen Jahren auf dieser Veranstaltung vertreten und betrachtet Micronora als einen Höhepunkt seiner Geschäftstätigkeit. Diese Fachmesse bietet eine einzigartige Gelegenheit, sich mit Herstellern zu vernetzen, die sich den wachsenden Herausforderungen der Dimensionskontrolle stellen, und die neuesten technologischen Entwicklungen der Branche kennenzulernen.
Die Mikromechanik stellt heute immer höhere Anforderungen an Präzision, Wiederholgenauigkeit und Prüfgeschwindigkeit. Ob für Uhren-, Medizin- oder Luftfahrtkomponenten oder für hochpräzise bearbeitete Teile – Hersteller suchen nach Lösungen, die ihre Produktion sichern und gleichzeitig ihre Messzeiten optimieren.
Bei dieser Gelegenheit wird MCE Metrology mehrere komplementäre Technologien vorstellen, die sich mit diesen Herausforderungen befassen.
Zu den ausgestellten Neuheiten zählt die TurnX200, die neueste Innovation des französischen Herstellers FOX Metrology. FOX Metrology, ein etablierter Akteur der Schweizer Uhrenindustrie, erweitert seine Expertise nun auf die Prüfung revolutionierter Bauteile. Die TurnX200 wurde dank der Integration einer vierten Achse und des dazugehörigen Zubehörs als Übergangsgerät zwischen Vollfeldmessung und Scantechnologie konzipiert.
Ziel ist es, die Steuerungsanforderungen von Drehteilen, komplexen Profilen und zylindrischen Geometrien zu erfüllen.
Besucher können außerdem das FOX 036 mit konfokalem Sensor entdecken, das sich besonders für Anwendungen eignet, die eine schnelle Erfassung komplexer Oberflächen erfordern.
Die optische Multisensor-Messtechnik wird durch das Micro-Vu Vertex repräsentiert, das über die Software FOXMap Rauheitsmessungen und Oberflächenanalysen ermöglicht. Diese Kombination erlaubt die Ergänzung optischer Dimensionsprüfungen durch eine detaillierte Charakterisierung der Oberflächenbeschaffenheit.
Zum Schluss rundet der Profilprojektor CV120 von T&S das ausgestellte Sortiment ab und bietet eine leistungsstarke Lösung zur Messung der Konturen und Profile von Präzisionsteilen.
Mit dieser Geräteauswahl bekräftigt MCE Metrology sein Engagement, Hersteller von Mikromechaniksystemen mit Lösungen zu unterstützen, die auf all ihre Herausforderungen im Bereich der Steuerung zugeschnitten sind – von der optischen Vollfeldmessung bis zur Oberflächenanalyse, einschließlich der Kontrolle von Rotationsteilen.
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