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Dimensions- und dreidimensionale Messungen

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Informationen

Die Rastersondenmikroskopie ist eine Schlüsseltechnologie zur Charakterisierung der Beschaffenheit einer Probenoberfläche. Bisher war allgemein anerkannt, dass für eine einzelne Messung ein einziges Instrument benötigt wird. Die Oberflächenwissenschaft und -technologie hat einen großen Bedarf an einem Instrument, das in der Lage ist, alle Arten von Nahfeldwechselwirkungen zu charakterisieren.

Unsere patentierte Technologie revolutioniert die Standard-Rastersondenmikroskopie, indem sie den Interaktionssensor und die Sonde selbst entkoppelt. Dank unserer Lösungen ist es jetzt einfach, die Art der Spitze und die Interaktion, die sie erkennen kann, zu ändern. Unsere Instrumente bieten die Möglichkeit, die Oberflächeneigenschaften Ihrer Probe mit einem universellen, vielseitigen und benutzerfreundlichen Instrument vollständig zu charakterisieren. Mit einem UPI-Instrument ist es jetzt möglich, viele Arten von Wechselwirkungen in einer Vielzahl von Umgebungen zu messen.

UPI bietet einen universellen Sensor und es gibt keine Einschränkungen in der Interaktionssonde, die man sich vorstellen kann. Tatsächlich spielt die Größe keine Rolle, und es ist kein Problem, jede Art von Sonde in unsere Instrumente zu integrieren.